基礎(chǔ)版 塞貝克系數(shù)/電阻測(cè)試儀 LSR-3（LSR L31）可通過多種可選配件功能擴(kuò)展應(yīng)用范圍。例如，低溫配件支持液氮冷卻至 -100 °C 的全自動(dòng)測(cè)量，并配備專用的薄膜適配器，用于測(cè)量薄膜及薄層樣品。

可選攝像頭功能可實(shí)現(xiàn)電導(dǎo)率的高精度測(cè)定，而高阻配件則顯著擴(kuò)展了測(cè)量范圍，適用于低電導(dǎo)率樣品的表征。

由于計(jì)算無量綱值 ZT 時(shí)，除塞貝克系數(shù)和電導(dǎo)率外，還需熱導(dǎo)率數(shù)據(jù)，因此通常需借助其他設(shè)備（如激光閃射法導(dǎo)熱儀 LFA）進(jìn)行測(cè)定。為解決這一問題，林賽斯 塞貝克系數(shù)/電阻測(cè)試儀 可集成額外的激光閃射法導(dǎo)熱儀（參見 LZT 測(cè)量?jī)x），或采用特殊適配器，通過哈曼法直接測(cè)量固體材料的熱導(dǎo)率。這是一種直接的ZT測(cè)定方法，結(jié)合原始的兩項(xiàng)測(cè)量數(shù)據(jù)，可推導(dǎo)出熱導(dǎo)率。集成哈曼法的 LSR 測(cè)量系統(tǒng)因其顯著附加價(jià)值，被稱為 LSR-4 。通過選配擴(kuò)展測(cè)量電子設(shè)備，LSR-4 測(cè)量系統(tǒng)還可基于相同測(cè)量原理，利用阻抗光譜技術(shù)測(cè)定熱電模塊（TEG）的 ZT 值。